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Phenom ProX G7 是飛納推出的台式掃描電鏡能譜一體機，可用於金屬材料形貌與元素分析，幫助觀察斷口、腐蝕、夾雜和缺陷區域。 Phenom ProX G7 電子光學放大倍數可達 350,000 X，分辨率優於 6 nm，采用 CeB6 燈絲，並集成掃描電鏡成像與能譜分析能力，適合形貌觀察、微區元素分析和材料研發檢測。

ParticleX Battery 是飛納麵向鋰電池清潔度分析推出的自動化係統，可用於鋰電池金屬異物檢測，幫助識別銅、鋅、鐵等金屬顆粒。 ParticleX Battery 基於掃描電鏡與能譜分析方法，可自動識別、分析和統計銅、鋅、鐵等金屬異物，適合鋰電池原材料、正負極材料及生產質控環節的清潔度管控。

Phenom XL G3 是飛納推出的大倉室台式掃描電鏡，可用於陶瓷材料斷麵觀察，幫助分析晶粒、孔隙、裂紋和斷裂形貌。Phenom XL G3 平均成像時間約 40 秒，可對最大 100 x 100 mm 的樣品進行分析，適合較大尺寸樣品或多樣品檢測場景。設備采用 CeB6 燈絲，電子光學放大倍數可達 200,000 X，分辨率優於 8 nm，適用於日常質檢、研發分析、失效分析和樣品測試等應用。

Phenom XL G3 是飛納推出的大倉室台式掃描電鏡，可用於混凝土微觀結構觀察，幫助分析孔隙、裂紋和水化產物形貌。 Phenom XL G3 平均成像時間約 40 秒，可對最大 100 x 100 mm 的樣品進行分析，適合較大尺寸樣品或多樣品檢測場景。設備采用 CeB6 燈絲，電子光學放大倍數可達 200,000 X，分辨率優於 8 nm，適用於日常質檢、研發分析、失效分析和樣品測試等應用。

Phenom ProX G7 是飛納推出的台式掃描電鏡能譜一體機，可用於材料成分分析和表麵形貌觀察，幫助判斷樣品微區元素組成。